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光纤传感器

用于精确测量,在苛刻的应用中具有最大灵活性的传感器设计。

光纤:精确测量,具有最大的灵活性

使用光纤测量方案(WLPI:白光偏振干涉测量)从Althen来看,您可以测量应变,压力,位移或温度。传统的电子传感器通常通过扭曲诸如高电压或EMV而扭曲的抗扭的效果而受阻。这是我们的系统闪耀的地方:他们开放可靠测量的新可能性,尤其是在最具挑战性的环境中。

光纤传感器的特性与优点

  • 高免疫力:对高压和电磁干扰不敏感。
  • 长期稳定:由于换档或弯曲纤维或连接器而没有光学损耗。
  • 优越的强度:传感器坚固耐用,适用于最苛刻的应用。
  • 简单安装:容易调整光纤的长度,安装通过点焊,胶水,或完全集成到组件。
  • 轻便紧凑的外形因素:传感器可以非常小。
  • 多功能性:相同的信号评估单元可以捕获上述所有测量量。
  • 没有维护:无需校准或维护。
  • 本质安全:该传感器适用于高压环境,ATEX保护区域,以及化学侵蚀环境。

光纤传感器的可能应用

  • 制造业
  • 航天
  • 国防
  • 岩土工程的应用
  • 建设
  • 结构监测
  • 能源和可再生能源
  • 化学工业

食品饮料行业

Althen的专家来访超过40年的经验根据您的需求提供完美的解决方案。这还包括定制光纤和完全集成的解决方案。你的优势:我们提供独立的建议并不限制你一个制造商。在你的要求下,我们为您量身定制测量188体育平台在线平系统。我们很乐意回答你们的任何问题。

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适用于各种应用的光纤传感器:我们的产品组合

为您的应用找到完美的压力传感器。我们很乐意帮你选择。

光纤传感器-完美的最具挑战性的应用

光纤白光偏振干涉测量(WPLI)拥有光纤专利技术,可在最具挑战性的应用中进行精确测量。它提供了传感器设计中的最大灵活性这样即使在极其不利的环境中也能产生可靠的测量结果。

这包括:

  • 光纤调节简单,
  • 容易安装,
  • 以及将传感器完全集成到像信用卡一样小的部件中的可能性。包括信号评估所需的所有部件。

一个信号评估单元可以捕获所有被测量的量。

光纤传感器:我们的产品系列

光纤应变传感器能够精确测量变形。可能的应用包括:

  • 结构监测
  • 检测微裂缝和局部材料缺陷
  • 风力机转子叶片负荷的测量
  • 轻质工程中的制造优化
  • 振动分析

我们的光纤压力传感器即使在最苛刻的环境中,也能够实现高精度的压力测量。由于它们的小形状,高抗扰度和高可靠性,这些传感器适用于许多应用,例如

  • 科学研究
  • 工业应用

光纤位置传感器具有较长的生命周期,适合要求绝对可靠性的最苛刻的应用程序。它们是所有工业应用的理想选择,包括

  • 实时结构监测
  • 混凝土结构的监察
  • 飞机结构监测

光纤温度传感器用于创建温度配置文件。一种典型的光纤温度传感器是连接在光纤末端的单点传感器。光纤具有抗电磁辐射的性能。这使得它们即使在高压梯度、爆炸性环境或化学腐蚀性环境中使用也没有问题。典型的应用程序包括以下内容。

  • 磁共振成像(MRI)监测
  • 管道反应堆的过程监控
  • 分析钻井岩心和泄漏检测

我们使用的纤维光学传感器

您想在实践中了解我们的产品吗?看看来自客户的这些有趣的项目:

光纤WLPI技术是如何工作的?

光纤白光偏振干涉技术是一项专利技术。它能在最苛刻的应用中实现精确测量。WLPI在传感器设计上具有很大的灵活性,即使在最具挑战性的环境中也能进行可靠的测量。

光纤测量系统包括两个主要部分:光纤传感器和信号处理单元。光纤传感器由一个密封的外壳组成,该外壳包含光学传感器元件和光纤,光纤根据所使用的技术提供不同的用途。

基于光的不同性质(强度,相位,极化或光谱)有几种光纤测量程序。根据程序的不同,指定的测量量的变化会导致这些属性中的一个或多个改变,从而改变返回信号。

外在和内在传感器

光纤传感器可分为两个主要类别:外在和内在传感器。它们在设计和功能中不同,具有特定的属性,使其适用于不同的应用。

在内在传感器中,光导体是测量机构的基本组件。光纤是传感器。该类别的常见示例包括基于光纤布拉格光栅的传感器。

另一方面,外部传感器的特征在于与光纤分离的敏感部件。光纤仅在传感器单元和评估电子器件之间传输光信号。外部传感器的实例包括基于砷化镓晶体(GaAs)的温度传感器以及下面给出的基于WLPI的光学传感器。

精密光学测量程序

信号评估单元将光信号送入光纤,接收反射的、改变的信号,并对其进行处理,输出所测量的物理单元。使用的光源根据测量程序和技术的不同而不同。

光学干涉测量法被认为是光纤测量中最灵敏的方法,它测量光的相位调制。干涉仪是一种高精度光学测量设备,其特点是两束或两束以上的光束被引导到不同的路径通过半透明的镜子,然后被另一组镜子反射和重新组合。这就产生了一种干涉图样,这种干涉图样是由不同的光路在它们的复合/叠加之前所采取的不同的光路决定的。

使用干涉测量仪允许您在当该数量的变化时测量物理量,导致干涉仪中的路径长度的变化。

激光与白光

传统光纤传感器中使用激光作为光源,由于其带宽较窄,导致了相位模糊问题。这是由于光源的相干长度一般大于干涉仪的波长差异。因此,基于干涉测量的光纤传感器的可能应用受到了限制。解决这一问题的方法是使用较短相干长度和较宽光谱的光源。

这种干涉测量法被称为白光干涉测量法或光学相干断层扫描法。Opsens的创始人是白光干涉法光纤测量的先驱。他们已经改进了这项技术,使其具有商业可行性。

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